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20.04.2012
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TIRF-Strahlteiler

Optische Filter für die TIRF-Mikroskopie

Optische Filter für TIRF-Mikroskopie
Optischer Filterwürfel für TIRF-Mikroskopie
Um TIRF-Mikroskopie Anwendungen zu vereinfachen, bietet es sich an, spezielle TIRF-Strahlenteiler in TIRF-spezifischen Filterwürfeln spannungsfrei zu halten. Zur Einkopplung verschiedener Laserwellenlängen sind eine Vielzahl von Multiband-Strahlenteilern mit den entsprechenden spezifisch geblockten Multiband-Sperrfiltern (Laser-Rejectionband oder Multi-Notch-Filter) erhältlich. Hierzu bietet AHF analysentechnik in Zusammenarbeit mit Chroma Technology und Semrock komplette Filtersysteme an, die sich an die Erfordernisse des Messplatzes und spezifischen Fragestellungen anpassen lassen.
AHF analysentechnik AG
Kohlplattenweg 18
DE - 72074 Tübingen
Telefon: +49 7071 970901-0
Fax: +49 7071 970901-99

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Laser + Photonik informiert Entwickler optischer, optoelektronischer und lasertechnischer Komponenten, Baugruppen und Systeme über Strahlquellen, optische und optoelektronische Materialien, Strahlführung, Baugruppen, Messtechnik und CAE-Tools (z.B. Raytracing) für optische Berechnungen und Auslegung im Maschinen und Gerätebau, Informations- und Kommunikationstechnik (IuK), Automobil- und Medizintechnik.
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