Polytec integriert in seine neue TMS-Report-Software für seine ›TopMap‹- und ›TopSens‹-Oberflächen-Topografie-Analyzer die neueste Generation der Oberflächenanalyse-Software ›Mountains-Technologie‹ von Digital Surf. Die Software ist in verschiedenen Ausführungen erhältlich und erweitert die Möglichkeiten der Vorgängerversion.
Die TopMap- und TopSens-Produktreihen arbeiten mit hochpräziser kontaktloser 3D-Profilometer-Technologie und ermöglichen die hochauflösende Bewertung der Mikro-/Nano-Topografie funktioneller Oberflächen, einschließlich weicher Materialien sowie die schnelle Charakterisierung von Oberflächentextur und Oberflächengeometrie. Insbesondere die TopMap-Weißlicht-Interferometer mit einem breiten Erfassungsfeld und einem großen Scan-Bereich einget sich für Ebenheitsmessungen und für die Stufenhöhenbestimmung.

Die Standard TMS-Report-3D-Oberflächenanalyse-Software der TopMap-Oberflächentopografie-Analyzer bietet 3D-Oberflächendarstellung in Echtzeit aus beliebiger Perspektive und mit allen Zoom-Niveaus sowie interaktive oder automatisierte Analyse von Oberflächenbeschaffenheit und -geometrie. Zu den zusätzlichen Funktionen aus den optionalen TMS-Report+ Modulen und aus TMS-Report Premium gehören ein erweitertes Set an 3D- und 2D-Oberflächentexturparametern, Ebenheitsparameter und Fourier-Analyse. Weitere Module bieten Kontur- und Formabweichungsanalyse und die statistische Auswertung von multiplen dynamischen oder statischen Messdatenserien. Alle Zahlenergebnisse lassen sich zum Datenaustausch mit anderen Systemen in Excel-kompatible Textdateien exportieren.
Zur Auswertung von Profilmessdaten, die mit Polytecs neuen ›TopSens‹-Punktsensoren aufgenommen wurden, ist eine spezielle TMS-Report Profil-Software erhältlich.

Die TopMap- und TopSens-Produktreihen arbeiten mit hochpräziser kontaktloser 3D-Profilometer-Technologie und ermöglichen die hochauflösende Bewertung der Mikro-/Nano-Topografie funktioneller Oberflächen, einschließlich weicher Materialien sowie die schnelle Charakterisierung von Oberflächentextur und Oberflächengeometrie. Insbesondere die TopMap-Weißlicht-Interferometer mit einem breiten Erfassungsfeld und einem großen Scan-Bereich einget sich für Ebenheitsmessungen und für die Stufenhöhenbestimmung.