Charakterisierung von Optischen Systemen mit Hoher Dynamik, Auflösung und Präzision
Die “SID4”-Technologie von Phasics reagiert mit neuen Wellenfrontsensoren auf die hohen industriellen und wissenschaftlichen Leistungsanforderungen in der optischen Messtechnik.
Von Sabrina Velghe | William Boucher | Pascal Delage | Benoit Wattellier
Erschienen in Laser+Photonik 03/2011, Seite 64-67
Direct Link: http://www.laser-photonik.de/dl/LP110104.html
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Hochdynamische Wellenfrontmessung [847 KB]
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Literatur
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1 J. Primot and N. Guérineau: Extended Hartmann Test Based on the Pseudoguiding Property of a Hartmann Mask Completed by a Phase Chessboard, Appl. Opt. 39, 5715-5720, 2000.
2 R.V. Shack, B.C. Platt: Production and use of a lenticular Hartmann screen, J. Opt. Soc. Am. 61, 656, 1971.
3 P. Bon et al: Quadriwave lateral shearing interferometry for quantitative phase microscopy of living cells, Opt. Express 17, 13080-13094, 2009.
4 W. Montgomery: Self-Imaging Objects of Infinite Aperture, J. Opt. Soc. Am. 57, 772-775, 1967.
5 Y. Cohen-Sabban and D. Joyeux: Aberration-free nonparaxial self-imaging, J. Opt. Soc. Am. 73, 707-719, 1983.
6 B. Wattellier, W. Boucher, S. Velghe, P. Francou: High dynamic wavefront sensing for lens group characterization, Paper TD07-31, SPIE Optifab, 2011.
7 P. Delage, W. Boucher, B. Wattellier: Surface quality diagnostic using quadri-wave lateral shearing interferometry, Paper TD07-27, SPIE Optifab, 2011.
