Am 26. und 27. Juni veranstaltete die VDI Wissensforum GmbH die ›2. VDI-Konferenz Lebensdauer und Qualitätssicherung in der LED-Beleuchtung‹. Konferenzleiter war Dr. Uwe Slabke, Institutsdirektor des LED Institut Dr. Uwe Slabke.

Im Vergleich zum Vorjahr hatte sich die Teilnehmerzahl um 20 Teilnehmer auf 120 erhöht. Diese kamen von Hochschulen, aus dem Bereich der Leuchten- und Fahrzeugindustrie sowie dem LED-Packaging. Die Konferenz war strukturiert anhand der Werkschöpfungskette: Angefangen vom LED-Package, über den Bestückungsprozess bis zur LED-Leuchte wurden verschiedene Einflüsse auf die Lebensdauer und Qualität der LED diskutiert.

Dass LED-Beleuchtungssysteme herkömmliche Beleuchtungssysteme ablösen werden, ist mittlerweile keine Frage mehr: Deutlich höhere Effizienz, lange Lebensdauer und die vielfältigen Möglichkeiten zur Lichtgestaltung sind nur einige der vielen Vorteile. Nach Dr. Slabke werden in naher Zukunft LEDs mit einer Lichtausbeute von 200 lm/W kommerziell erhältlich sein.

Eine wichtige Frage im Hinblick auf die Lebensdauer war nicht nur, wie viele Stunden Lebensdauer für welche Anwendungen nötig und machbar sind, sondern vor allem, wie die Lebensdauer am besten charakterisiert werden kann. Das LM-80-Modell bleibt weiterhin ein wichtiger Test zur Prüfung des LED-Packages, die TM21-Hochrechnung ist zwar akzeptiert, wird aber als nicht ausreichend angesehen. Eine Vereinheitlichung der Testverfahren und Modellierung der Systemzuverlässigkeit zur einfachen Vergleichbarkeit von LEDs verschiedener Hersteller und zur Qualitätssicherung wird gefordert. Dr. van Driel, Philips Lighting, hat dazu ein beschleunigtes Testverfahren für mid-power LEDs vorgeschlagen, bei dem erst die einzelnen Komponenten der LED-Leuchte und anschließend die komplette Leuchte für einen verkürzten Zeitraum getestet werden. Ziel ist es, die Zuverlässigkeit der LEDs vorhersagbar zu machen.

Die Qualität der LEDs soll aber nicht nur im Hinblick auf Degradation, sondern auch im Hinblick auf Ausfall charakterisiert und gesichert werden. Hierzu wurden Fehlermechanismen und Schutzfunktionen der Elektrischen Baugruppen diskutiert. Electrical Overstress (EOS) und elektrostatische Entladungen (electrostatic discharge, ESD) stellen die häufigsten Fehlerfälle der LED dar und können auch durch fehlerhafte Bestückungsprozesse und beim Handling der LEDs verursacht werden.

Bei der Podiumsdiskussion, geleitet von Prof. Dr. Khanh von der TU Darmstadt, diskutierten die Konferenzteilnehmer rege mit Dr. Van Driel, Philips Lighting, Thomas Lott, Nichia Chemical Europe, Dr. Slabke, LED Institut Dr. Slabke und Dr. Zahner, Osram Opto Semiconductors, über Themen wie Investitionsschutz durch Garantien, die nötige Kommunikation zwischen Endanwender und LED-Hersteller und die Möglichkeit zur Vereinheitlichung der Testverfahren.

Am Vortag der LED-Konferenz fand zum ersten Mal ein eintägiges Seminar zum Thema ›OLED in der Beleuchtung‹ statt. Aufgrund des durchweg positiven Feedbacks der 30 Teilnehmer wird es im nächsten Jahr sehr wahrscheinlich eine eigenständige Veranstaltung zum Thema OLEDs geben. Die 3. VDI-Konferenz zum Thema Lebensdauer und Qualitätssicherung wird vom 25. bis 26. Juni 2014 wieder in Düsseldorf stattfinden.